美国GATAN PIPS II TEM离子减薄系统
发布：2016-10-23 12:38 | 来源：未知 | 浏览：
PIPS II 系统
精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备，它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制
优点
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使用 X、Y 样品台来把减薄区域精确定位到离子束交叉点
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改进低电压性能的离子枪，有用电压低至 100 伏，从而快速安全地对 FIB 制备的TEM样品进行抛光
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利用 DigitalMicrograph® 软件和光学数码显微镜进行图像存储和分析
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10 英寸彩色触摸屏可用于显示和控制所有 PIPS™ II 参数
