高分辨率、准确的质谱数据是否一定会第一时间得出正确结果？使用离子淌度选择性可以无 需再运行额外的确认实验。Vion IMS QTof具有新型几何构造，包含XS Ion Optics和QuanTof2检测系统，它的灵敏度和动态范围可使离子淌度定量功能用于日常分析，从而实现：
有了Vion IMS QTof，您可以使用离子淌度的选择性快速优化谱图，并减少色谱分离时产生的共流出物和背景干扰，让您的化合物鉴定工作更可靠。
能够收集和处理每个离子的CCS（碰撞截面积）数据，这使您对数据拥有前所未有的信心。Vion IMS Qtof基于UNIFI科学信息系统， 可提供最全面的分析工作流程，使您能够在同一个软件平台上定位、鉴定和审核结果，从而更快更明智地做出决策。CCS提供不受色谱保留时间限制的数据点，可 使您充满信心地鉴定分析物，并降低假阳性和假阴性的风险。即使是在样品分析的初期阶段，您没有任何关于保留时间的信息，也可以使用精确的理论质量数和 CCS数据值来鉴定未知的和意料之外的化合物。
MSE在记录数据时不会对数据进行区别和预筛选。因此，您的样品被完全纳入一个分析中。如果没有离子淌度分离的选择性，要完全确认子离子和母离子之间的关系就需要进行专门的MS/MS实验。
有了Vion IMS QTof，现在就能够在台式QTof上实现HDMSE无限的碎片离子采集模式。这种非数据依赖型的采 集模式使用离子淌度选择性对母离子和碎片离子进行时间关联，实现所有已检测到化合物的MS/MS特异性。与DDA方法相比，该采集模式所需的设置时间更 短，并且由于所有数据均可在一次分析中完成采集，因此无需重复采集。在一次分析中采集所有数据，再结合离子淌度的额外特异性，使您可以充满信心地做出更快 更好的决策。
