赛默飞世尔科技的Antaris™ II FT-NIR分析仪，便于实验室开发出适用于工厂的分析方案和方法。 Antaris II FT-NIR分析仪凭借着业内领先的模型转移性能，保证了旁线(at-line)，在线(online)，线内(in-line)的数据采集更佳稳定，可靠。 用户可以自定义Antaris II NIR分析仪的采样附件以满足特殊的分析应用需要，也可以选择Antaris II MDS（包括透射采样，光纤采样，积分球漫反射采样方式）的完整方法开发系统。
Antaris II FT-NIR 分析仪可：
推荐用途：
| - | |
| 高度（公制） | 33 cm |
| 长度（公制） | 68.5 cm |
| 电压 | 90 - 264 VAC |
| 重量（公制） | 47.7 kg |
| 宽度（公制） | 40.6 cm |
| 通信 | 即插即用型 USB 通讯 PC，无需管理 |
| 描述 |
赛默飞世尔科技的Antaris™ II FT-NIR分析仪，便于实验室开发出适用于工厂生产的分析方案和方法。 赛默飞世尔科技的Antaris™ II FT-NIR分析仪，便于实验室开发出适用于工厂生产的分析方案和方法 |
| 检测 | 高灵敏度和高稳定性的 InGaAs检测器 |
| 干涉仪 |
经验证的、无摩擦、稳定、长寿 Michelson(迈 g尔逊干涉仪) 经验证的、无摩擦、稳定、长寿 Michelson(迈克尔逊干涉仪) |
| 工作温度范围 | 15°至 35°C（59° 至 95°F） |
| 操作员通讯指示器 | 红色、黄色和绿色 LED 指示灯代表通过/失败/提示 |
| 光度线性度 | 斜率 1.0 ±0.05，截距 0.0 ±0.05 |
| 吹扫 | 可选 |
| 分辨率 |
4 cm-1光谱分辨率（.6 nm，1,250 nm 处）；2 cm-1光谱分辨率（.3 nm，1,250 nm 处） 4 cm-1光谱分辨率（.6 nm，1,250 nm 处）；2cm-1光谱分辨率（.3 nm，1,250 nm 处） |
| 密封和干燥 | 是 |
| 光谱范围 | 12,000 - 3,800 cm-1 (833 - 2,630 nm) |
| 系统状态指示器 | 是 |
| 波数准确度 |
±0.03cm-1（.005nm，1,250nm 处） ±0.03 cm-1（.005nm，1,250nm 处） |
| 波数重复性 |
单系统： 10 标准差为0.006 cm-1 单系统： 10 标准差为0.006cm-1 |
| 波数可重现性 | 系统间： 优于 .05 cm-1（.008 nm，1,250 nm 处） |
| 分析仪类型 | 傅里叶变换近红外 |
| 物品描述 | Antaris II FT-NIR 分析仪 |
| 网络协议 | PC 直接连接以太网，可允许文件系统和 OPC 通信 |
| 采样模式 |
可配置反射、透射、光纤或药片(漫)透射。 可配置反射、透射、光纤或药片(漫)透射 |
| 源类型 |
长寿命、高强度卤素近红外光源；系统包含备用光源，对针式定位设计，安装时保证光路的的准直 长寿命、高强度卤素近红外光源；系统包含备用光源，对针式定位设计，安装时保证光路的的准直。 |
